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漏电流IL
漏电流(mA)也称等待电流,是指压敏电阻器在规定的温度和直流过压敏电阻器电流。IEC对漏电流 IL较为普遍的定义是:环境温度25℃时,在压敏电阻上施加其所属规格的连续直流工作电压UDC时,流过压敏电阻的直流电流。
一般而言,在材料配方和烧结工艺固定的情况下,漏电流适中的压敏电阻具有较好的安全性和较长的寿命。
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压敏电阻的物理特性:
ZnO 压敏电阻的非线性是一种晶粒边界现象,即在相 邻晶粒耗尽层中存在多数电荷载流子(电子)的势垒。认 为肖特基势垒像 ZnO 微结构中晶粒边界势垒。晶粒边界 上的负表面电荷(电子捕获)是由晶界面两侧晶粒的耗尽 层的正电荷来补偿的。热电子发射和隧道效应是主要的传 输机制。 近发展的压敏电阻势垒的晶粒边界缺陷模型在改进 稳电压应力下,压敏电阻的稳定性上取得了很大进展。
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